BIB(BURN IN BOARD,老化測(cè)試),完成封裝測(cè)試的IC在特定的工況和時(shí)間內(nèi)老化測(cè)試,以檢驗(yàn)IC的可靠性。BIB就是用于IC老化測(cè)試的PCB 板件。